Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов
Афанасьев А.М., Александров П.А., Имамов Р.М.
М.: Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит., 1986.— (Проблемы науки и технического прогресса).—96 с. Изложены основные идеи физики дифракции рентгеновских лучей, направленные на создание методов анализа кристаллической структуры тончайших приповерхностных слоев и границ раздела кристаллов высокой степени совершенства, в первую очередь полупроводниковых кристаллов, являющихся основой современной микроэлектроники.
Litres
Bạn có muốn thêm cừa hàng sách? Xin liên lạc theo support@z-lib.do
Chuyển đổi tập tin
Các kết quả tìm kiếm tiếp theo
Các lợi ích khác 
